涂層測(cè)厚儀探頭F400探頭
TT260涂層測(cè)厚儀選配F400探頭，主要用于較薄厚度的涂層測(cè)量，涂層測(cè)厚儀探頭可獲得測(cè)量結(jié)果和更高的重復(fù)性，另外涂層測(cè)厚儀探頭在管材基體直徑較小或者被測(cè)區(qū)域接觸面積較小時(shí)，F(xiàn)400探頭也是的選擇。
TT260涂層測(cè)厚儀測(cè)頭型號(hào)
F400
涂層測(cè)厚儀探頭工作原理
磁感應(yīng)
涂層測(cè)厚儀探頭測(cè)量范圍（um）
0-400
涂層測(cè)厚儀探頭低限分辨力(um)
0.1
示值誤差
一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)
±[3%H+1]
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)
±[(1～3)%H+0.7]
測(cè)量條件
*小曲率半徑(mm)
凸 1
基體*小面積的直徑(mm)
ф3
*小臨界厚度(mm)
0.2
涂層測(cè)厚儀探頭探頭尺寸（mm)
ф12X55