UI9600 晶體管熱敏參數(shù)篩選儀
熱敏參數(shù)是衡量晶體管VBE，β，ICEO 等參數(shù)在常溫和高溫下的變化量，是晶體管的重要特性，受到越來越多的鎮(zhèn)流器生產廠家重視。因為鎮(zhèn)流器內部溫度很高，高溫下晶體管的VBE，β，ICEO 等參數(shù)會發(fā)生變化，如果變化量過大，將嚴重降低產品可靠性。
性能:
◆ 常溫下測量的參數(shù):放大倍數(shù)β(0~99)
開關時間T (0.01μs~99.9μs)，包括上升時間，存儲時間，下降時間Tr，Ts，Tf
飽和壓降VCES (0~2V)，正向壓降VBE (0~2V)
漏電流ICEO (0.1μA~3mA)
耐壓BVCEO (50V~650V)
◆ 高溫下測量的參數(shù): β, VBE, ICEO
◆ 對比常溫和高溫下的兩次測量結果，對β、VBE、ICEO 三項參數(shù)變化量超過一定范圍的
管子以聲光報警，予以剔除
◆ 對T、β進行分檔，可顯示批號；對VCES、VBE、 ICEO、BVCEO 及熱敏參數(shù)進行超限判斷，
不合格的聲光報警，并指示不合格項
◆ 測試條件可按要求自由調節(jié)或設定
A. β測試β: Ib 注入電流有三檔: 0.1mA, 1mA, 10mA
B. 開關時間測試: Ic電流有四檔: 0.5A, 0.25A, 0.1A, 0.05A
對應 Ib 電流為: 0.1A, 0.05A, 0.02A, 0.01A
C. 對晶體管加熱條件:
加熱電壓: 5~20V連續(xù)可調；加熱電流: 0.05~2A連續(xù)可調；加熱時間: 0~9.9s連續(xù)可調
◆ 分檔、超限判斷可自由設定，掉電自動保存，儀器能夠同時保存20組數(shù)據(jù)，使用時只要調出
其中一組即可
◆ 四窗口數(shù)字顯示所測數(shù)據(jù)，讀數(shù)直觀，可打印所測數(shù)據(jù)
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