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產(chǎn)品資料

Fluke 1621 接地電阻測(cè)試儀

Fluke 1621 接地電阻測(cè)試儀
  • 如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
  • 產(chǎn)品名稱:Fluke 1621 接地電阻測(cè)試儀
  • 產(chǎn)品型號(hào):Fluke 1621
  • 產(chǎn)品展商:美國(guó)福祿克
  • 產(chǎn)品文檔:無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
Fluke 1621 接地電阻測(cè)試儀Fluke 1621 是一款簡(jiǎn)單易用的接地測(cè)試儀。 對(duì)于接地電阻測(cè)試場(chǎng)合,1621 是檢測(cè)可靠接地連接線路的**道防線。 裝置采用多種基本的接地測(cè)試方法,其中包括三極電壓降測(cè)試法及兩極接地電阻測(cè)試法。
產(chǎn)品描述
Fluke 1621 接地電阻測(cè)試儀
Fluke 1621 接地電阻測(cè)試儀
常規(guī)技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量功能
 三極接地電阻,兩極交流電阻,干擾電壓
基本誤差
 查閱參考溫度范圍,提供一年保修
測(cè)量速率
 每秒測(cè)量 2 次
電池
 1 個(gè) 9 伏堿性電池 (LR61)
電池電量狀態(tài)
 如果電壓低于 6.5 V,則會(huì)顯示 LO-BAT(低電量)
電壓
H/C2 和 E/C1 接頭之間:*大 250 Veff(有效電壓)
S/P2 和 E/C1 接頭之間:*大 250 Veff
氣候類別
 VDE/VDI 3540 RZ(符合 KWG,每個(gè) DIN 40040,4/87)
溫度性能
工作:-10 °C 至 +50 °C(+14 °F 至 +122 °F)
操作:0 °C 至 +35 °C(+32 °F 至 +95 °F)
存儲(chǔ):-20 °C 至 +60 °C(+68 °F 至 +140 °F)
參考:+23 °C ± 2 °C (+73 °F ± 4 °F)
溫度系數(shù)
 量程的 ± 0.1 %,每開(kāi)氏溫度
**
 IEC/EN 61010-1,600 V,II 類,2 級(jí)污染
尺寸
 113 毫米 x 54 毫米 x 216 毫米((4.5 英寸 x 2.1 英寸 x 8.5 英寸),包括護(hù)套
重量
 850 克(1.9 磅),包括標(biāo)準(zhǔn)附件,體積約 600 立方厘米
注:
 如果不使用測(cè)試儀,或需要長(zhǎng)期存放,請(qǐng)卸下電池并與測(cè)試儀分開(kāi)存放,以免電池泄露對(duì)測(cè)試儀造成損害。
注:
 測(cè)試儀的 4 個(gè)溫度范圍符合歐洲**標(biāo)準(zhǔn)要求;通過(guò)使用溫度系數(shù)來(lái)計(jì)算工作環(huán)境溫度下的準(zhǔn)確度,儀器可在整個(gè)溫度范圍內(nèi)正常工作。

電氣技術(shù)指標(biāo)
*大偏差:
E1 影響因素位置
E1 偏差影響0%
E2 影響因素電壓
E2 偏差影響0%
E3 影響因素溫度 E3
E3 偏差影響2.3 %
E4 影響因素串行干擾電壓 (20 V)
E4 偏差影響0.6 %
E5 影響因素探針和輔助探針電阻
E5 偏差影響10%
測(cè)試電壓
 3.7 kV
保護(hù)等級(jí)
 IP 40;IEC/EN 60529
電磁兼容性
 輻射:EC/EN 61326,B 類
 抗擾:IEC/EN 61326,附錄 C
RE 電阻測(cè)量
測(cè)量方法使用改進(jìn)的串?dāng)_衰減方法進(jìn)行電流-電壓測(cè)量,無(wú)需補(bǔ)償導(dǎo)線電阻測(cè)量,使用探針(三極)或不使用探針(兩極),符合 IEC/EN 61557-5 標(biāo)準(zhǔn)
開(kāi)放電路電壓23 至 24 V ac
短路電流> 50 mA ac
測(cè)量頻率128 Hz
*大許可過(guò)載250 Veff
測(cè)量時(shí)間
 8 秒(從按“開(kāi)始”起計(jì)算的平均值)
限制輸入
 即使測(cè)試儀關(guān)閉,仍會(huì)保留設(shè)定值(如果電池電量充足)
自動(dòng)切換分辨率
RH< 7 kΩ
分辨率0.01 Ω
RH< 50 kΩ
分辨率0.1 Ω
RH> 50 kΩ
分辨率1 Ω
干擾直流和交流電壓顯示
*大電壓30 Veff
共模抑制> 80 dB,50 Hz 和 60 Hz
Ri680 kΩ
測(cè)量誤差對(duì)于純交流電和直流電信號(hào),< 10 %

量程
0.15 Ω 至 20 Ω
分辨率0.01 Ω
顯示范圍0 至 19.99 Ω
200 Ω
分辨率0.1 Ω
顯示范圍20 至 199.9 Ω
2 kΩ
分辨率1 Ω
顯示范圍200 至 1999 Ω
基本誤差
 ±(測(cè)量值的 6 % + 5 位數(shù)字)
操作誤差 IEC 61557
 ±(測(cè)量值的 18 % + 5 位數(shù)字)
注:
 [1] 包括影響因素 E1-E5 造成的所有偏差。
如果高探針或輔助探針電阻造成的偏差 E4 高于指定值,即會(huì)閃爍。
測(cè)量值不在指定的操作誤差范圍內(nèi)。

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